フェルミ準位測定器

FAC-2

特長

・

平版試料専用のケルビンプローブ

・

電極・サンプル間距離の微調整が不要でサンプルのセットが容易

・

半導体サンプルのフェルミ準位を大気中で測定可

・

測定が短時間のため、成膜・表面処理直後の金属表面の変化など、経時的な測定に最適

用途

・

有機電子材料のフェルミ準位測定

・

金属・導電性薄膜の仕事関数の測定

製品カテゴリ

ケルビンプローブ

型式

FAC-2

測定原理

ケルビン法

測定部サイズ

Φ10mm

測定エネルギー範囲

3.4～6.2eV(仕事関数5.0eVの基準サンプルで校正した場合)

測定時間

10秒以下(サンプルが金属の場合)

繰り返し精度(標準偏差)

仕事関数0.02eV(試料：金板)

温湿度範囲

温度範囲15～35℃、湿度20～60%RH

電源

AC100V、50/60Hz 5A(MAX)

外形寸法

約235(W)×330mm(H)×408(D)mm

重量

約12kg
カタログ
日本語
マニュアル
日本語

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